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VIAVI Solutions公司近日宣布推出面向光学实验室、生产和制造环境的全新测试和测量产品CONTROL ENGINEERING China版权所有，强化了业界最完整的光子测试模块产品线。
随着每波长光网络数据速率正接近极限CONTROL ENGINEERING China版权所有，组件和网络设备制造商（NEM）面临挑战，需要在基础设施设计创新方面寻求突破。服务提供商面临诸多最紧迫的问题，从400G +相干模块、集成硅光子学和ROADM组件，到对PON、5G和超大规模数据中心网络的加速光纤连接需求。对于设计并制造新技术，力求应对上述挑战的工程师而言，VIAVI的全新解决方案至关重要。
针对屡获殊荣的MAP-300测试平台，VIAVI已为LightDirectTM系列模块发布了六项主要增强功能。该平台于去年推出，特别侧重于支持相干模块和硅光子测试应用。
· mTLS-C1是同类产品中市场上最为紧凑型的全新高功率C+L波段连续可调激光器模块。
· mSRC-C2中新增六种全新CW光源类型，支持所有电信遥测波长和重要的全新O波段，同时支持1310nm DFB和大功率O波段宽带SLED。
· 全新可变背向反射模块mVBR-C1支持最新OIF规范对400G-ZR的要求。
· mPCX-C1的两个新版，一个完整O波段版本和一个高速偏振加扰器，适用于只需要简单偏振加扰的制造应用。
· mVOA-C1模块的重要功能增强可支持硬件触发以进行LOS校准CONTROL ENGINEERING China版权所有，还支持毫秒分辨率中断测试模式、以及使用外部光功率计（OPM）的全新功率控制模式。
· 用于mOPM-C1的全新MPO和大功率积分球，以及用于MAP-300的首版OPMScope控制工程网版权所有，可将功率计底盘转换为功能强大的多通道记录和瞬态捕获系统。
VIAVI发布了三款旨在优化质量、生产力和资本利用率的全新光纤连接制造解决方案：
VIAVI CleanBlastPRO是下一代自动连接器端面清洗系统，其全新功能可确保单光纤和多光纤连接器的端面清洁控制工程网版权所有，并具有最高的可靠性和复现性。采用非接触式清洁方法，结合业内最受信任的有效溶剂，CleanBlastPRO可简化工作流程，相较于基于易损件的传统接触式清洗方法，能够节省9倍的成本。
MAP-300无源组件/连接器测试（PCT）光学测试系统中新增了省时测量模式。全新VIAVI FastIL模式使用户能够在4秒内测量12芯MPO的插入损耗（IL），可节省20％至40％的时间。全新数据管理实用程序无缝集成于PCT-Control Center应用程序中，能够极大地简化基于html的报告创建。
此外，基于MAP-300的mSWS扫频波长系统集成了全新模块化高功率扫频激光器mSWS-A2SLS。对于批量ROADM组件制造，全新模块化激光器已经成为拥有成本最低的测试解决方案，可将机架空间减少50％，将周期时间缩短多达20％，并利用开放式平台软件界面和分布式架构，将总拥有成本进一步降低30％，同时保持当前的测量性能。
VIAVI副总裁兼实验室和生产事业部总经理Tom Fawcett表示：“在当今复杂的网络环境中，制造商面临着新挑战，亟需满足对产量、性能、以及针对新行业标准的合规性等方面日益增长的需求。随着行业的快速发展，我们与行业领先制造商紧密合作，为下一代技术的开发提供所需的工具，基于在光子和光纤测试领域30多年的创新，致力于确保向高效批量生产的无缝过渡。”
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