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本次研讨会为以下工程师量身定做：
•希望了解下一代自动化测试系统的发展趋势及其相应的解决方案
•希望构建的测试系统能够进一步提高系统灵活性、可扩展行CONTROL ENGINEERING China版权所有，进一步提升系统的吞吐能力，进一步降低测试系统的投资
•希望了解模块化特性为测试系统的硬件平台以及软件架构带来的强大特性
•希望了解PXI总线技术及其应用
•希望了解基于PXI的数据采集和仪器控制解决方案
•希望了解基于PXI总线的模块化仪器及其详细应用
通过本场研讨会www.cechina.cn，您将了解到：
•了解下一代自动化测试系统体系架构www.cechina.cn，特别是模块化的硬件平台与软件架构
•了解如何将多平台测试设备整合到单一的混合系统中
•了解基于PXI总线架构的优势，及其为自动化测试系统性能带来的改善
•了解如何应对当前自动化测试系统的四大挑战
•更高性能的体系结构
•进一步降低测试系统的投资
•延长测试系统的生命周期，满足未来测试需求
PXI总线
数据采集
模块化仪器
时间与地点
2007/3/8 洛阳 14：00-17：00 华阳广场国际大饭店3楼一隔段（洛阳涧西区凯旋西路8号）
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