NI独家|各种难搞测试问题，就此终结！

　　之前@恩艾在您身边相继分享过汽车、半导体、航空航天的年度测试资料合集（还没看的自己补课哦），今天分享下关于电子测试的资料，细分类型包括无线研究、电子制造产线测试、无线连接与功能测试、电子功能测试、工业领域状态监控等话题。

　　电子制造产线测试的挑战，哪一条戳中了你的心？

　　从这些问题出发，如何建立解决问题的策略？NI专家给出了一些建议。小编先划下重点：

　　如何进行测试标准化，不被供应商“绑架”

　　NI的一项客户调查表明，测试策略是测试团队最需要支持的一个方面，而标准化就是解锁测试策略的重要钥匙之一。测试不仅仅是保证产品质量的一个手段，而且能够为整个公司带来附加值。

　　如果你们公司也在进行测试标准化，那你可能会感同身受，标准化的成果如何在多个团队之中得到广泛的应用，是最常见的挑战。

　　在“自动化圆桌派”的直播回放中，NI合作伙伴博测达专家秀出了公司当前测试标准化的成果↓

　　如何发挥数据的价值

　　大家不缺数据，缺的是发挥数据价值的方法。我们可以将制造型企业使用数据的情况大致分为三个层次，第一是了解过去已经发生的事；第二是了解正在发生或短期内会发生的事，这对数据收集与处理的实时性要求较高；第三个我们可以概括让数据为设计制造流程全周期提供洞见。（小伙伴们也可以再发散一下图片）

　　在设计、开发、制造、运营等各个阶段，数据分析能提供增值的地方是什么？

　　从设计到产线测试的数据双向打通，将产线测试数据导入研发阶段的仿真模型，从而提高测试数据对研发的指导意义，优化设计流程，提升设计验证阶段的效率。

　　跨越开发到制造的流程，通过重用开发阶段的IP和数据，来优化测试策略。

　　这里引入一个测试站的概念，测试站包含四个基本要素：硬件基础设施、硬件仪器、本地软件和服务器/云软件。

　　支撑这些策略的强大后盾是什么

　　PXI可以说是NI模块化测试平台的灵魂，NI提供 600多种 PXI模块，频率范围从直流覆盖到毫米波。资料来自《电子功能测试解决方案手册》。

　　以上这些资料摘自NI电子测试资料合集，合集中还有关于现在大热的数字化转型问题，以及基础并且重要的仪器选择问题，小伙伴自己来查阅吧。

　　小编将资料分成了几种类型，供参考~

图说工控