NI独家|各种难搞测试问题，就此终结！

　　之前@恩艾在您身边相继分享过汽车、半导体、航空航天的年度测试资料合集（还没看的自己补课哦），今天分享下关于电子测试的资料，细分类型包括无线研究、电子制造产线测试、无线连接与功能测试、电子功能测试、工业领域状态监控等话题。

　　电子制造产线测试的挑战，哪一条戳中了你的心？

　　从这些问题出发，如何建立解决问题的策略？NI专家给出了一些建议。小编先划下重点：

　　如何进行测试标准化，不被供应商“绑架”

　　如果你们公司也在进行测试标准化，那你可能会感同身受，标准化的成果如何在多个团队之中得到广泛的应用，是最常见的挑战。

　　即便前期工作困难重重，我们也会被测试标准化的巨大潜能吸引，比如加快产品投放市场进程、提高运营效率，确保产品质量，减少产线的计划外停机时间、提升可扩展性，提升从研发验证到产线测试的可重用性。

　　在“自动化圆桌派”的直播回放中，NI合作伙伴博测达专家秀出了公司当前测试标准化的成果↓

　　如何发挥数据的价值

　　在设计、开发、制造、运营等各个阶段，数据分析能提供增值的地方是什么？

　　从设计到产线测试的数据双向打通，将产线测试数据导入研发阶段的仿真模型，从而提高测试数据对研发的指导意义，优化设计流程，提升设计验证阶段的效率。

　　跨越开发到制造的流程，通过重用开发阶段的IP和数据，来优化测试策略。

　　世界各地的测试团队迫切需要一个全方位的测试策略来平衡这些需求，而他们纷纷选用了NI测试平台，看中的正是NI 完善的软件解决方案和模块化硬件架构。

　　这里引入一个测试站的概念，测试站包含四个基本要素：硬件基础设施、硬件仪器、本地软件和服务器/云软件。

　　支撑这些策略的强大后盾是什么

　　PXI可以说是NI模块化测试平台的灵魂，NI提供 600多种 PXI模块，频率范围从直流覆盖到毫米波。资料来自《电子功能测试解决方案手册》。

　　以上这些资料摘自NI电子测试资料合集，合集中还有关于现在大热的数字化转型问题，以及基础并且重要的仪器选择问题，小伙伴自己来查阅吧。

　　小编将资料分成了几种类型，供参考~

图说工控