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航天测控:测试领域新技术的发展

作者:范佳平2007.06.16阅读 2601

       测试是检验测试对象的功能、性能是否满足使用要求并及时发现问题的重要而有效手段,一般而言,在产品的研制、生产和使用维护的全寿命过程中都离不开测试技术和测试装备,它们是产品研制过程中的重要手段,是产品制造过程中的质量保证工具,同时也是产品维修保障体系的关键要素。测试技术是确保产品“可靠性、可维修性、可保障性”的重要支柱,是产品全寿命周期的测试、维护、维修保障的技术手段;测试仪器及由各种测试仪器组成的测试系统则是测试技术的最终体现。随着测试需求的提高和应用的发展,尤其是软硬件技术和测试技术手段的发展CONTROL ENGINEERING China版权所有,近年来在测试领域中新的技术得到了快速的发展:如各种新型的仪器总线的相继推出和应用,小型化、合成化和综合化的仪器不断涌现,综合的、通用化的自动化测试系统和测试与诊断一体化系统的蓬勃发展,远程测试与维修诊断技术、内装自测试技术、综合测试与诊断软件平台技术等在不断地完善和应用。
 
  测试仪器及先进的测试总线技术
 
  根据行业的应用特点,测试仪器可以分为基础测量仪器、合成仪器、微波/毫米波仪器等等。针对通用测

试、故障诊断、综合保障系统的需求,业内进一步开发并完善了基于VXI/PXI/LXI仪器总线的基础测量仪器系列型谱CONTROL ENGINEERING China版权所有,在机箱、控制器、高速数采、高端示波器、高速I/O、边缘扫描、微波仪器以及通讯测量仪器等方面得到进一步拓展并完善,在各种形式的高端及综合仪器产品研发上得到加强,重视仪器接口的标准化、网络化和应用的网络化;由可互换虚拟仪器(IVI)标准的引入所带来的仪器驱动程序的标准化,满足了仪器间可互换性的要求,并对通用化测试诊断软件平台的开发和应用提供了基础保障;针对新一代雷达、通讯、电子侦察和电子干扰、精确制导等应用的发展,并满足对密集、复杂和状态多变的电磁环境模拟仿真和高精度测量与分析的需求,合成仪器以及微波/毫米波测试仪器的相关技术得到了快速发展,如更宽频率的捷变频及非线性、多端口、高功率的测试仪器技术和仪器的出现,实现了更多参数综合化、模块化和一体化的测试。无线电及光通信网络的测试技术、红外测试技术、以及软件无线电技术等的研究和应用也得到了较快推进。

  测试系统的组成离不开测试总线,总线本身亦成为测试系统的主要组成部分,根据总线结构功能和性质的不同可以将测试总线分成内部总线和外部总线。业内流行的内部测试总线主要有VXI和PXI两种总线,它们分别在VME和PCI两种计算机总线的基础上发展起来,尽管分别定义了很多种安装结构和总线定义,但由于应用的事实标准,当前绝大部分的结构形式是:VXI使用的是C尺寸www.cechina.cn,而PXI使用的是A尺寸。在最新的版本中,VXI(V3.0)的总线速度可达到160MB/s,而PXI的总线速度更快,最高速度可达528MB/s,PXI的另一个提高传输速度的发展是支持PCI Express,有人给它命名为PXIE总线,它在PXI总线的背板上再集成进PCI Express总线,以满足某些仪器模块的快速数据传送需求;就应用情况而言,两种总线在测试领域都得到了较好的发展,VXI总线定义了更为严格的时钟、供电电源、机箱和电磁兼容的指标要求,因此主要应用在高端的测试领域www.cechina.cn,而PXI在要求小型化和仪器间快速数据传送的场合发展很快。另外一个快速总线的发展是ATCA(AdvancedTCA)总线的推出和应用CONTROL ENGINEERING China版权所有,支持最高可达40Gb/s的接口速度。以航天测控公司为代表的国内仪器厂家已全面掌握了各类VXI/PXI总线模块化测试仪器的开发技术,并形成了系列化的VXI/PXI总线基础测量仪器货架产品,大部分产品的指标与国外同类产品相当,部分指标还高于国外产品,同时可以满足更宽的使用环境要求。

  外部总线有GPIB、USB、1394和LXI等,当前发展和应用比较活跃的有USB和LXI总线,在小型化、便携式或实验室的应用中,以USB接口的仪器系统有快速发展之势;在广泛使用的Ethernet的基础上发展而成的LXI总线,则被认为是第一款真正意义上的外部仪器总线,它分为A、B、C三个级别,A级别要求最高,可以满足精确时钟同步和同步触发的功能要求,在分布式和大规模的测试系统中有独到的应用空间,为测试技术的应用开辟了另一片天地。
 
  自动化测试及综合测试技术
 
  伴随着世界新技术的发展,信息化技术和信息化装备的应用已成为提升装备能力的关键途径,无论是民用还是军用领域的水陆空装备、通信系统、自动化生产装置等等,其电磁探测、自动化控制、数据分析、数据传输、网络通信等一系列功能在不断地增加,所承载的电子设备也在不断地增加,为保证装备的正常工作,对这些先进而复杂的电子设备的测试和故障诊断就显得格外之重要,面对这样测试及诊断任务越来越繁重和复杂的局面,多年来

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