目前,在许多应用领域,例如处理器、移动电话、调制解调器等产品,SOC技术已经成为主要的研究方向。这类SOC芯片整合了数字逻辑电路、模拟电路、内存模块以及知识产权(IP)核,甚至将微处理器、外围接口、通信模块皆能包括于一芯片中。SOC芯片的应用,对于提升系统性能、减少系统能耗、降低系统的电磁干扰、提高系统的集成度都有很大的帮助,顺应了产品轻薄短小的趋势。
安捷伦公司推出的93000 SOC测试系统,完全满足业界需求,对于高速数字电路、嵌入式内存、混合信号测试都提出了有效的解决方案。
嵌入式内存测试
嵌入式内存是SOC芯片不可或缺的组成部分,因此其测试以及分析的方法也就相当重要。93000 SOC测试系统在内存的测试上,无须额外的硬件,可直接将高速数字测试通道,作为内存测试之用,以达到全速测试的目的www.cechina.cn,同时在运行中切换逻辑与内存测试,能有效提高产率,并进一步作冗余分析和修补。
内存测试与除错
首先,在93000提供的APG(算法
接着便需选择测试图码,其目的在于利用一连串的读写动作重复测试内存的每一个单元,不同的图码可检测到不同的制程错误,例如固定错误、耦合错误等。93000已将校验板、步进6N等标准的内存测试图码作成图库,使用者可直接选取,或者,根据待测物的特定需求,使用ASCII格式自行编辑图码。
内存测试的图码需占用大量的向量内存,以12×12的256Mb SRAM做一次步进6N为例,扫描所有的地址需要约10M的周期,这还不含其它功能测试的向量。如采用具有独立通道架构的93000测试系统,使用软件式APG能大大压缩系统内存的占用量至原本的1/19500,即约剩536周期。因此,在测试具有多功能的SOC芯片上,便不须担心因为加入内存测试而需增加系统的内存资源。
内存模块因其不同的电路架构,而须特别的除错工具,以便观察待测对象出问题的地方是在哪里。93000专为内存测试提供了位图与错误存储二种除错工具,另外诸如状态列表、示波器与时序图亦可做为辅助使用。
冗余修补
随着高容量内存出现,只要有故障便丢弃整块内存的方式变得不切实际,通常2Mb以上的SRAM/DRAM,可在模块上增加多余的行或列,利用激光绕开故障的点。至于有限的行或列是否足以修补故障,则须由测试系统判断。
一般的内存测试系统都有其判断是否足以修补的算法,但很难说是否为最佳化,尤其当待测对象较简单时。93000提供的是一种动态的冗余判断,当发现有故障点时,其地址与I/O资料会传回利用C编辑的判断程序处理。如果仍可以修补则继续测试工作,反之,已知该芯片已无剩余的列或行可使用。当发现还有故障的地址,表示已无法修补而必须丢弃时www.cechina.cn,其它的点就可跳过,直接测试另一个项目或跳至下一块芯片,以节省测试时间。
高速测试的挑战
对于高速数字电路的测试,93000 SOC系统同样也具有完备的解决方案。目前,93000 SOC的P 系列产品具有600MHz、800MHz直至1GHz的测试能力,其NP系列产品,更具有高达10GHz的测试能力,充分满足了高速CPU和网络处理器的测试需求。但是,高速电路的测试不但要求测试系统的能力,也对整个测试环境提出了更高的要求。
一般而言,我们首先会面临到传输线的问题,传输线材质的不同,其相对的电容特性及电感特性也不一样。 在低速传输的环境中www.cechina.cn,传输线本身的电容效应,电感效应对于传输的信息不至于有太大的影响,但在高速传输的环境之下,电容效应和电感效应造成了传输信息的失真www.cechina.cn,无论在芯片内部的数据传输或是在芯片外部的应用方面,我们可以预见传输线本身的材质及电器特性在高速环境下的重要性。
在芯片的测试环境中,包含了