美国国家仪器有限公司（NI）于日前参加了在上海光大会展中心举办的2015年汽车测试及质量监控博览会。在此次博览会上www.cechina.cn，NI联合多家业内合作伙伴，集中展示了NI为汽车行业提供的灵活开放式的测试平台与多样化的解决方案。
　　此次博览会上www.cechina.cn，NI着重展示了其硬件在环仿真（HIL）技术。NI通过其创新的低成本模块化硬件和软件平台帮助工程师和科学家设计并建立自己的HIL系统。硬件在环HIL仿真技术可以对虚拟运行环境中的设备进行非常逼真的模拟,还可以更加有效的测试嵌入式控制系统。NI硬件在环测试平台具有开放的软硬件技术架构，可以减少工程师的开发时间、成本和风险。在支持第三方硬件和软件建模工具的同时CONTROL ENGINEERING China版权所有，NI还提供一系列高性能模拟和数字I/O设备， CAN、LIN和FlexRay总线接口，故障注入硬件等，让客户可以高效实现应用。基于开放的工业标准，用户总能将最新的PC技术用在自己的HIL测试系统中。HIL测试系统的可扩展性满足了多种快速变化的需求。
　　NI多年来在汽车领域一直致力于研发灵活、高性能的产品，其开放式平台可以涵盖从原型到生产测试全流程www.cechina.cn，助力了汽车行业测控应用的高速发展。中国目前已经成为全球最大的汽车市场，同时对于国际主要的汽车电子产品供应商来说www.cechina.cn，中国也都是他们的主要研发生产基地。汽车行业已经成为NI中国的重要客户市场之一。NI对中国的汽车电子行业市场充满信心www.cechina.cn，会继续针对业内用户的需求和应用方向，提供更加完善和最具前沿技术的解决方案。