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全天的研讨会由NI资深工程师主持，分别以数据采集的硬件和软件为讲题安排上、下午两场会议控制工程网版权所有，并在其间穿插最新的技术发展分析、现场应用演示、以及演讲者和与会者之间互动的交流时间。上海、北京两地的会议现场都座无虚席，听众反应热烈，因为NI的研讨会将产品技术和实际应用完美地结合在一起，能提供高质量的解决方案，满足用户们不断更新的测试测量需求。
会议的重点议程包括测试软硬件的2个方面：
· 在基于计算机的数据采集或测量中（通常这会涉及到模数转换器），即使有经验的工程师也会对硬件指标中的一些常见术语的含义产生困惑CONTROL ENGINEERING China版权所有，例如：精度（accuracy），分辨率（resolution），敏感度（sensitivity），精密性（precision）。一个常见的错误就是把仪
· 测量系统的总成本包括2个部分：显性成本和隐性成本。显性成本是指软硬件产品的成本。NI近期推出了全新高性价比的硬件系列产品www.cechina.cn，并全面降低了E系列数据采集卡的价格--这表明了NI在致力于采用最新的科技发展、为用户带来高性能的数据采集硬件的同时，尽可能地为用户着想，节省显性成本。而隐性成本就是开发成本控制工程网版权所有，包括系统配置、开发时间、校准方面的投资，由于这些并非"明码标价"，所以常常被用户们所忽视。NI的软件产品可以帮助工程师和科学家们极大地提高效率，缩短开发时间，从而减少测试测量的隐性成本。举例来说，DAQ Assistant（数据采集助手）可以通过硬件配置节省时间，并生成代码；DAQ driver（数据采集驱动）可以完成自校准等。既然显性和隐性两方面的成本都降低了，那么系统总成本无疑是可以令用户满意的。
NI时刻以用户的需求为出发，为各个领域的工程师和科学家们带来性价比合理的高精度测量硬件、帮助缩短开发时间的高集成性测量软件，以及优质、专业的售后技术支持。参加本次巡回研讨会，能使您在最短时间内构建最精确的测试测量系统！想要了解和报名参加即将在成都、南京、深圳和香港四城市举行的研讨会，请访问ni.com/china，点击左侧目录栏的"活动安排和培训课程"，在线注册；或选择邮寄、传真中的一种方式回复NI寄出的宴请函即可。
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